MIRTEC smt 2D AOI машына MV-6e

‌

MIRTEC 2D AOI MV-6e - гэта магутнае аўтаматычнае аптычнае абсталяванне для кантролю, якое шырока выкарыстоўваецца ў розных электронных працэсах, асабліва пры праверцы друкаваных поплаткаў і электронных кампанентаў.

Характарыстыкі прадукту Камера высокага разрознення: MV-6e абсталяваны 15-мегапіксельнай камерай высокага раздзялення, якая можа забяспечыць высокадакладную праверку 2D малюнкаў. Рознанакіраваны агляд: абсталяванне выкарыстоўвае шасцісегментнае каляровае асвятленне для больш дакладнага агляду, а таксама падтрымлівае шматнакіраваны агляд Side Viewer (дадаткова). Праверка дэфектаў: ​​ён можа выявіць розныя дэфекты, такія як недахоп дэталяў, зрушэнне, надмагільная пліта, бок, празмернае лужэнне, недастатковае лужэнне, вышыня, халодная зварка штыфта IC, дэфармацыя дэталяў, дэфармацыя BGA і г. д. Пульт дыстанцыйнага кіравання: праз Intellisys можа быць дасягнута сістэма падлучэння, дыстанцыйнае кіраванне і прадухіленне дэфектаў, зніжэнне страт працоўнай сілы і павышэнне эфектыўнасці. Тэхнічныя параметры

Памер: 1080 мм х 1470 мм х 1560 мм (даўжыня х шырыня х вышыня)

Памер друкаванай платы: 50 мм х 50 мм ~ 480 мм х 460 мм

Максімальная вышыня кампанента: 5 мм

Дакладнасць вышыні: ±3um

Элементы 2D праверкі: адсутнічаюць дэталі, зрушэнне, перакос, надмагілле, бок, перагортванне дэталяў, рэверс, няправільныя дэталі, пашкоджанне, луджэнне, халодная пайка, пустэчы, OCR

Элементы 3D-кантролю: дэталі, якія ўпалі, вышыня, становішча, занадта шмат волава, занадта мала волава, уцечка прыпоя, двайны чып, памер, халодная пайка лапкі IC, іншародныя рэчывы, дэфармацыя дэталяў, дэфармацыя BGA, выяўленне паўзучасці волава і г.д.

Хуткасць праверкі: Хуткасць праверкі 2D складае 0,30 секунды/FOV, хуткасць праверкі 3D складае 0,80 секунды/FOV

Сцэнары прымянення

MIRTEC 2D AOI MV-6e шырока выкарыстоўваецца пры праверцы друкаваных поплаткаў і электронных кампанентаў, асабліва для праверкі дэфектаў, такіх як адсутныя дэталі, зрушэнне, надмагілле, бакавое адхіленне, празмернае луджэнне, адсутнасць луджання, высокая і нізкая тэмпература, халодная пайка штыфтоў IC, дэфармацыя дэталяў і дэфармацыя BGA. Яго высокая дакладнасць і высокая эфектыўнасць робяць яго незаменным інструментам кантролю ў электронным працэсе.

Перавагі MIRTEC 2D AOI MV-6E у асноўным адлюстроўваюцца ў наступных аспектах: Камера з высокім дазволам: MV-6E абсталявана 15-мегапіксэльнай асноўнай камерай, якая з'яўляецца адзінай 15-мегапіксельнай камерай у свеце, якая можа працаваць больш дакладна і стабільныя праверкі. Яго звышдакладная камера 10umc можа цалкам выявіць праблемы дэфармацыі і халоднай пайкі дэталяў 03015. Рознанакіраваны агляд: MV-6E выкарыстоўвае шасцісегментнае каляровае асвятленне для больш дакладнага кантролю. Ён таксама абсталяваны 10-мегапіксэльнымі бакавымі камерамі ў чатырох кірунках на ўсход, поўдзень, захад і поўнач, якія могуць эфектыўна выяўляць дэфармацыю цені, асабліва кантрольны раствор J-штыфтоў.

Перадавая тэхналогія: MV-6E выкарыстоўвае праекцыйную прыладу муара для вымярэння кампанентаў з чатырох напрамкаў для атрымання 3D-малюнкаў, забяспечваючы тым самым бяспеку пашкоджанняў і высакахуткаснае выяўленне дэфектаў. Яго 8 камплектаў тэхналогіі праекцыі муаравых палос спалучаюць высока- і нізкачашчынныя муаравыя паласы для выяўлення вышыні кампанента і выкарыстоўваюць поўны 3D у спалучэнні з асноўнай камерай для дакладнага выяўлення