Das VI SMT 2D AOI 2K prüft bestückte Leiterplatten mithilfe optischer Bilder und programmierter Prüfregeln. Das System überprüft festgelegte Bauteilpositionen und hebt Abweichungen zwischen den aufgenommenen Bildern und dem erwarteten Bestückungszustand hervor.
Die Produktionsteams können die Inspektionsergebnisse auswerten, um fehlende Bauteile, Platzierungsabweichungen und andere erkennbare Oberflächenfehler zu untersuchen. Die Abdeckung der Leiterplatten und die Inspektionskriterien hängen vom installierten Bildverarbeitungssystem und dem für jedes Leiterplattenmodell konfigurierten Programm ab.





