en
ori
alb
amh
ara
arm
aym
aze
bel
ben
bos
bul
bur
cs
dan
de
div
el
est
fil
fin
fra
gle
glg
grn
heb
hi
hkm
hrv
hu
ice
id
it
jp
kan
kin
kor
lao
lav
lit
ltz
lug
mao
may
mlt
nep
nl
nor
nya
orm
per
pl
pt
rom
ru
san
sk
som
spa
srp
swa
swe
tam
th
tr
ukr
urd
vie
wel
xho
Bentron AOI 8800 הוא ציוד בדיקה אופטי אוטומטי תלת מימד מתקדם עם מגוון תכונות ופונקציות טכניות, המתאים למגוון צורכי בדיקה.
מאפיינים טכניים טכנולוגיית בדיקה ומדידה במהירות גבוהה: Bentron AOI 8800 מאמצת טכנולוגיית בדיקה ומדידה במהירות גבוהה, שיכולה לבצע בדיקה ומדידה במהירות גבוהה ללא צל, מה שמבטיח 100% בדיקה מלאה דו-ממדית ותלת-ממדית, ומבטיחה נקייה לחלוטין מצללים. בדיקה אופטית ושיעור אזעקת שווא נמוך, תוך שמירה על גמישות גבוהה. בדיקה ברמת דיוק גבוהה: הציוד משתמש ב-8 מנורות הקרנה + 3 שכבות של מקורות אור דו-ממדיים, בשילוב עם אלגוריתמי בדיקה סינכרוניים דו-ממדיים ותלת-ממדיים, עדשות טלצנטריות לבדיקת דיוק גבוה ו-CPU ו-GPU בעלי תצורה גבוהה כדי להבטיח עיבוד תמונה. טכנולוגיית בדיקת תלת מימד: תומכת בבדיקת תלת מימד מסביב, יכולה למדוד גובה ונפח הלחמה ולשפר את היכולת לזהות מוצרים פגומים. ממשק אנושי: לציוד ממשק משתמש פשוט וברור, מערכת ניהול ספריית רכיבים סטנדרטית ומערכת איתור באגים לא מקוונת בזמן אמת (אופציונלית), מה שהופך את התפעול והתחזוקה לנוחים יותר. תרחישי יישום
טכנולוגיית בדיקה ומדידה במהירות גבוהה ללא צל: המערכת מבצעת 100% בדיקה דו-ממדית ותלת-ממדית על PCB, מה שמבטיח בדיקה אופטית ללא צל לחלוטין ושיעור אזעקת שווא נמוך, תוך שמירה על פונקציות מערכת גמישות במיוחד.
Bentron AOI 8800 מתאים למגוון תרחישים, כולל:
בדיקת PCB: ניתן לבצע 100% בדיקת דו-ממד ותלת-ממד של PCB כדי להבטיח בדיקה אופטית ללא צל ושיעור אזעקת שווא נמוך.
בדיקת רכיבים: ניתן לבדוק רכיבים בצורות גיאומטריות שונות כדי לספק תוצאות בדיקה ברמת דיוק גבוהה.
בדיקת פין פלאג-אין: מתאים לבדיקת פינים פלאג-אין, עם תמיכה באלגוריתמים מיוחדים.
פרמטרים של ביצועים
הפרמטרים העיקריים של הביצועים של Bentron AOI 8800 כוללים:
רזולוציית מצלמה: 9 מיליון פיקסלים, רזולוציה 10um.
מהירות בדיקה: עד 44.55 ס"מ²/שנייה.
שדה ראייה (FOV): עד 54×54 מ"מ.
גודל PCB מקסימלי: 510×600 מ"מ.
דרישות הספק: 220~240 VAC, 1 פאזה, 50/60Hz
