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Bentron AOI 8800 は、さまざまな検査ニーズに適した、さまざまな技術的特徴と機能を備えた高度な 3D 自動光学検査装置です。
技術的特徴 高速検査および測定技術：Bentron AOI 8800は、高度な高速検査および測定技術を採用しており、影のない高速検査および測定を実行し、100％2Dおよび3Dフル検査を保証し、完全に影のない光学検査と低い誤報率を保証しながら、高い柔軟性を維持します。 高精度検査：この装置は、8つの投影ランプ+ 3層の2D光源を使用し、2Dおよび3D同期検査アルゴリズム、高精度検査を提供するテレセントリックレンズ、および画像処理を保証する高構成のCPUとGPUを組み合わせています。 3D検査技術：オールラウンドな3D検査をサポートし、はんだの高さと体積を測定でき、不良品の検出能力を向上させることができます。 人間化されたインターフェース：この装置には、シンプルで明確なユーザーインターフェース、標準コンポーネントライブラリ管理システム、オフラインリアルタイムデバッグシステム（オプション）があり、操作とメンテナンスがより便利になります。 アプリケーションシナリオ
影のない高速検査および測定技術: このシステムは PCB に対して 100% 2D および 3D 検査を実行し、完全に影のない光学検査と低い誤報率を保証しながら、非常に柔軟なシステム機能を維持します。
Bentron AOI 8800 は、次のようなさまざまなシナリオに適しています。
PCB 検査: PCB の 100% 2D および 3D 検査を実行して、影のない光学検査と低い誤報率を保証します。
コンポーネント検査: さまざまな幾何学的形状のコンポーネントを検査し、高精度の検査結果を提供します。
プラグインピン検査: 特殊なアルゴリズムをサポートし、プラグインピン検査に適しています。
パフォーマンスパラメータ
Bentron AOI 8800 の主なパフォーマンス パラメータは次のとおりです。
カメラ解像度: 900 万ピクセル、解像度 10um。
検査速度：最大44.55cm²/秒。
視野（FOV）：最大54×54mm。
最大PCBサイズ：510×600mm。
電源要件: 220~240 VAC、単相、50/60Hz
