Keunggulan PARMI Xceed terutama meliputi aspek-aspek berikut:
Kecepatan dan akurasi inspeksi: PARMI Xceed mengadopsi metode pemindaian laser 3D, yang memiliki kecepatan inspeksi tercepat di bidang yang sama, mencapai 15 cm²/detik. Akurasi inspeksinya juga sangat tinggi, dan dapat menangani berbagai proses semikonduktor, seperti SiP, chip Tiny (0201~0402), cetakan, dll.
Berbagai macam item pemeriksaan: Xceed 3D AOI dapat memeriksa beragam item, termasuk ukuran, komponen yang hilang, offset, komponen yang salah, dudukan samping, monumen, teks, sambungan solder, pengangkatan pin, pin yang hilang, offset pin, pin, sambungan timah, pita, crimping, dan lain-lain.
Beradaptasi dengan berbagai platform: Xceed PropertyGrid mendukung berbagai format data dan tipe properti, termasuk JSON, XML, HTML dan CSV, dan cocok untuk berbagai platform seperti Windows, Linux dan Mac OS X
Mudah digunakan dan efisien: Xceed PropertyGrid memiliki antarmuka yang cerdas dan API yang lengkap, yang mudah digunakan dan dikelola. Sifatnya yang open source juga berarti bahwa pengguna bisa mendapatkan pemeliharaan dan dukungan jangka panjang.
Pengalaman pengguna berkinerja tinggi: Xceed DataGrid untuk WPF memberikan pengalaman pengguna yang kaya, lancar, dan berkinerja tinggi, mendukung virtualisasi data asinkron dan pengguliran halus modern, dan mekanismenya dapat tetap responsif bahkan saat memproses data dalam jumlah besar.