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Bentron AOI 8800은 다양한 검사 요구 사항에 적합한 다양한 기술적 특징과 기능을 갖춘 첨단 3D 자동 광학 검사 장비입니다.
기술적 특징 고속 검사 및 측정 기술: Bentron AOI 8800은 첨단 고속 검사 및 측정 기술을 채택하여 그림자 없는 고속 검사 및 측정을 수행하여 100% 2D 및 3D 전체 검사를 보장하고, 그림자 없는 광학 검사와 낮은 오경보율을 보장하는 동시에 높은 유연성을 유지합니다. 고정밀 검사: 이 장비는 8개의 투사 램프 + 3개의 2D 광원 층을 사용하여 2D 및 3D 동기 검사 알고리즘, 원심 렌즈와 결합하여 고정밀 검사를 제공하고, 고구성 CPU 및 GPU로 이미지 처리를 보장합니다. 3D 검사 기술: 전방위 3D 검사를 지원하고, 솔더 높이와 부피를 측정하고, 결함 있는 제품을 감지하는 능력을 향상시킵니다. 인간화된 인터페이스: 이 장비는 간단하고 명확한 사용자 인터페이스, 표준 구성 요소 라이브러리 관리 시스템 및 오프라인 실시간 디버깅 시스템(선택 사항)을 갖추고 있어 작동 및 유지 관리가 더욱 편리합니다. 적용 시나리오
그림자 없는 고속 검사 및 측정 기술: 이 시스템은 PCB에서 2D 및 3D 검사를 100% 수행하여 완전히 그림자 없는 광학 검사와 낮은 오경보율을 보장하는 동시에 매우 유연한 시스템 기능을 유지합니다.
Bentron AOI 8800은 다음을 포함한 다양한 시나리오에 적합합니다.
PCB 검사: PCB의 100% 2D 및 3D 검사를 수행하여 그림자 없는 광학 검사와 낮은 오경보율을 보장합니다.
구성 요소 검사: 다양한 기하학적 모양의 구성 요소를 검사하여 고정밀 검사 결과를 제공할 수 있습니다.
플러그인 핀 검사: 특수 알고리즘을 지원하여 플러그인 핀 검사에 적합합니다.
성능 매개변수
Bentron AOI 8800의 주요 성능 매개변수는 다음과 같습니다.
카메라 해상도: 900만 화소, 해상도 10um.
검사 속도: 최대 44.55cm²/초
시야(FOV): 최대 54×54mm.
최대 PCB 크기: 510×600mm.
전원 요구 사항: 220~240 VAC, 단상, 50/60Hz
