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PARMI Xceed의 장점은 주로 다음과 같은 측면에 포함됩니다.
검사 속도 및 정확도: PARMI Xceed는 3D 레이저 스캐닝 방식을 채택하여 동일 분야에서 가장 빠른 검사 속도를 보이며, 15cm²/초에 이릅니다. 검사 정확도도 매우 높고, SiP, Tiny 칩(0201~0402), 금형 등 다양한 반도체 공정에 대처할 수 있습니다.
다양한 검사 항목: Xceed 3D AOI는 크기, 누락된 부품, 오프셋, 잘못된 부품, 사이드 스탠드, 기념물, 텍스트, 납땜 접합부, 핀 리프트, 누락된 핀, 핀 오프셋, 핀, 주석 연결부, 리본, 압착 등 여러 항목을 검사할 수 있습니다.
다양한 플랫폼에 적응: Xceed PropertyGrid는 JSON, XML, HTML 및 CSV를 포함한 다양한 데이터 형식과 속성 유형을 지원하며 Windows, Linux 및 Mac OS X와 같은 다양한 플랫폼에 적합합니다.
사용자 친화적이고 효율적: Xceed PropertyGrid는 통찰력 있는 인터페이스와 풍부한 API를 갖추고 있어 사용 및 관리가 쉽습니다. 오픈 소스 특성 덕분에 사용자는 장기적인 유지 관리 및 지원을 받을 수도 있습니다.
고성능 사용자 경험: WPF용 Xceed DataGrid는 풍부하고 원활하며 고성능 사용자 경험을 제공하고, 비동기 데이터 가상화와 최신의 부드러운 스크롤링을 지원하며, 이 메커니즘은 대량의 데이터를 처리할 때에도 반응성을 유지합니다.
