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PARMI Xceed の利点には主に次の点が含まれます。
検査速度と精度: PARMI Xceed は 3D レーザースキャン方式を採用しており、同分野で最速の検査速度 (15 cm²/秒) を実現しています。検査精度も非常に高く、SiP、極小チップ (0201~0402)、金型など、さまざまな半導体プロセスに対応できます。
幅広い検査項目: Xceed 3D AOI は、サイズ、部品の欠落、オフセット、部品の誤り、サイドスタンド、モニュメント、テキスト、はんだ接合部、ピンの浮き、ピンの欠落、ピンのオフセット、ピン、スズ接続、リボン、圧着など、複数の項目を検査できます。
複数のプラットフォームに適応: Xceed PropertyGrid は、JSON、XML、HTML、CSV などの複数のデータ形式とプロパティ タイプをサポートし、Windows、Linux、Mac OS X などの複数のプラットフォームに適しています。
ユーザーフレンドリーで効率的: Xceed PropertyGrid には、使いやすく管理しやすい、洞察力のあるインターフェイスと豊富な API が備わっています。また、オープン ソースであるため、ユーザーは長期的なメンテナンスとサポートを受けることができます。
高性能なユーザー エクスペリエンス: Xceed DataGrid for WPF は、リッチでスムーズな高性能なユーザー エクスペリエンスを提供し、非同期データ仮想化と最新のスムーズ スクロールをサポートし、大量のデータを処理しているときでもメカニズムの応答性を維持できます。
