Zu den Vorteilen von PARMI Xceed zählen vor allem folgende Aspekte:
Inspektionsgeschwindigkeit und -genauigkeit: PARMI Xceed verwendet eine 3D-Laserscanmethode, die mit bis zu 15 cm²/s die schnellste Inspektionsgeschwindigkeit in diesem Bereich bietet. Die Inspektionsgenauigkeit ist ebenfalls sehr hoch und das Gerät kann mit einer Vielzahl von Halbleiterprozessen wie SiP, winzigen Chips (0201~0402), Gussformen usw. umgehen.
Große Auswahl an Prüfelementen: Xceed 3D AOI kann zahlreiche Elemente prüfen, darunter Größe, fehlende Teile, Versatz, falsche Teile, Seitenständer, Monument, Text, Lötstellen, Stiftabhebung, fehlende Stifte, Stiftversatz, Stift, Zinnverbindung, Band, Crimpen usw.
Anpassung an mehrere Plattformen: Xceed PropertyGrid unterstützt mehrere Datenformate und Eigenschaftstypen, darunter JSON, XML, HTML und CSV, und ist für mehrere Plattformen wie Windows, Linux und Mac OS X geeignet.
Benutzerfreundlich und effizient: Xceed PropertyGrid verfügt über eine aufschlussreiche Benutzeroberfläche und eine umfangreiche API, die einfach zu verwenden und zu verwalten ist. Der Open-Source-Charakter bedeutet auch, dass Benutzer langfristige Wartung und Support erhalten können.
Leistungsstarkes Benutzererlebnis: Xceed DataGrid für WPF bietet ein umfassendes, reibungsloses und leistungsstarkes Benutzererlebnis, unterstützt asynchrone Datenvirtualisierung und modernes reibungsloses Scrollen und der Mechanismus bleibt auch bei der Verarbeitung großer Datenmengen reaktionsfähig.