De voordelen van PARMI Xceed omvatten voornamelijk de volgende aspecten:
Inspectiesnelheid en nauwkeurigheid: PARMI Xceed gebruikt de 3D laserscanmethode, die de snelste inspectiesnelheid in hetzelfde veld heeft en 15 cm²/sec bereikt. De inspectienauwkeurigheid is ook erg hoog en het kan omgaan met een verscheidenheid aan halfgeleiderprocessen, zoals SiP, Tiny chips (0201~0402), mallen, enz.
Breed scala aan inspectie-items: Xceed 3D AOI kan meerdere items inspecteren, waaronder grootte, ontbrekende onderdelen, offset, verkeerde onderdelen, zijstandaard, monument, tekst, soldeerpunten, pinlift, ontbrekende pinnen, pinoffset, pin, tinverbinding, lint, krimpen, etc.
Geschikt voor meerdere platforms: Xceed PropertyGrid ondersteunt meerdere gegevensformaten en eigenschapstypen, waaronder JSON, XML, HTML en CSV, en is geschikt voor meerdere platforms zoals Windows, Linux en Mac OS X
Gebruiksvriendelijk en efficiënt: Xceed PropertyGrid heeft een inzichtelijke interface en rijke API, die eenvoudig te gebruiken en beheren is. De open source aard betekent ook dat gebruikers langdurig onderhoud en ondersteuning kunnen krijgen.
Hoogwaardige gebruikerservaring: Xceed DataGrid voor WPF biedt een rijke, soepele en hoogwaardige gebruikerservaring, ondersteunt asynchrone datavirtualisatie en modern vloeiend scrollen, en het mechanisme blijft responsief, zelfs bij de verwerking van grote hoeveelheden data.