Kelebihan PARMI Xceed terutamanya termasuk aspek berikut:
Kelajuan dan ketepatan pemeriksaan: PARMI Xceed menggunakan kaedah pengimbasan laser 3D, yang mempunyai kelajuan pemeriksaan terpantas dalam bidang yang sama, mencapai 15 cm²/saat. Ketepatan pemeriksaannya juga sangat tinggi, dan ia boleh mengatasi pelbagai proses semikonduktor, seperti SiP, Tiny chips (0201~0402), acuan, dll.
Pelbagai item pemeriksaan: Xceed 3D AOI boleh memeriksa berbilang item, termasuk saiz, bahagian yang hilang, mengimbangi, bahagian yang salah, dirian sisi, monumen, teks, sambungan pateri, angkat pin, pin hilang, pengimbang pin, pin, sambungan timah, reben , mengelim, dsb.
Menyesuaikan diri dengan berbilang platform: Xceed PropertyGrid menyokong berbilang format data dan jenis harta, termasuk JSON, XML, HTML dan CSV, dan sesuai untuk berbilang platform seperti Windows, Linux dan Mac OS X
Mesra pengguna dan cekap: Xceed PropertyGrid mempunyai antara muka yang berwawasan dan API yang kaya, yang mudah digunakan dan diurus. Sifat sumber terbukanya juga bermakna pengguna boleh mendapatkan penyelenggaraan dan sokongan jangka panjang.
Pengalaman pengguna berprestasi tinggi: Xceed DataGrid untuk WPF menyediakan pengalaman pengguna yang kaya, lancar dan berprestasi tinggi, menyokong virtualisasi data tak segerak dan tatal lancar moden, dan mekanisme boleh kekal responsif walaupun semasa memproses sejumlah besar data.