Las ventajas de PARMI Xceed incluyen principalmente los siguientes aspectos:
Velocidad y precisión de inspección: PARMI Xceed adopta el método de escaneo láser 3D, que tiene la velocidad de inspección más rápida en el mismo campo, alcanzando los 15 cm²/s. Su precisión de inspección también es muy alta y puede hacer frente a una variedad de procesos de semiconductores, como SiP, chips diminutos (0201~0402), moldes, etc.
Amplia gama de elementos de inspección: Xceed 3D AOI puede inspeccionar múltiples elementos, incluido el tamaño, las piezas faltantes, el desplazamiento, las piezas incorrectas, el soporte lateral, el monumento, el texto, las juntas de soldadura, la elevación de los pasadores, los pasadores faltantes, el desplazamiento de los pasadores, los pasadores, la conexión de estaño, la cinta, el engarce, etc.
Adaptación a múltiples plataformas: Xceed PropertyGrid admite múltiples formatos de datos y tipos de propiedades, incluidos JSON, XML, HTML y CSV, y es adecuado para múltiples plataformas como Windows, Linux y Mac OS X
Fácil de usar y eficiente: Xceed PropertyGrid tiene una interfaz intuitiva y una API completa, que es fácil de usar y administrar. Su naturaleza de código abierto también significa que los usuarios pueden obtener mantenimiento y soporte a largo plazo.
Experiencia de usuario de alto rendimiento: Xceed DataGrid para WPF proporciona una experiencia de usuario rica, fluida y de alto rendimiento, admite la virtualización de datos asincrónica y el desplazamiento suave moderno, y el mecanismo puede seguir respondiendo incluso cuando procesa grandes cantidades de datos.